Zref

Zref kan jy twee tipes berekeninge van enkel-kristal diffraksie metings uit te voer, ten einde eenheid-sel parameters te bepaal. As jy refleksies het gesentreer in 8 posisies op die Diffractometer met die zref opdrag in die interne sagteware, is die finale omega profiele gestoor in 'n lêer RFL. Die weerspieëling profiele gestoor in die lêer kan dan ondersoek word deur die WinIntegrStp program outomaties gerenoveerd, en is die ideale piek posisies en sel parameters bepaal kan word. As jy probleme met die piek vorms het nie, sal die outomatiese proses misluk. As dit gebeur, kan jy pas en te integreer die pieke met die hand in WinIntegrStp en stoor die toegeruste posisies in 'n geïntegreerde data of int lêer. Dan lees die int lêer in hierdie program, waar jy die korrekte piek posisies deur die 8-posisie metode kan bepaal, en verfyn die eenheid-sel parameters. Die program sal ook lees mat lêers gegenereer deur Enkellopend sodat jy kleinste-kwadrate op die piek lys kan verrig sonder begin Enkellopend.